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安柏AT2617電容測試儀

安柏AT2617電容測試儀

簡要描述:
安柏AT2617電容測試儀

AT261X系列是電容測試儀,采用高性能32位ARM微處理器控制的全自動實時檢測的微型臺式儀器。儀器可以選擇200kHz(AT2616)的測試頻率,并可選擇0.1V,0.3V,0.5V和1.0Vrms的測試信號電平。

更新時間:2023-06-28

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產(chǎn)品報價:

生產(chǎn)地址:深圳市

品牌常州安柏產(chǎn)地類別國產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域化工,電子,電氣

安柏AT2617電容測試儀

AT261X系列是電容測試儀,采用高性能32ARM微處理器控制的全自動實時檢測的微型臺式儀器。儀器可以選擇200kHzAT2616)的測試頻率,并可選擇0.1V,0.3V0.5V1.0Vrms的測試信號電平。

主副參數(shù)全5位顯示,可以同時顯示ZR、A、A%的一種。高達0.1%的準確度,使本儀器可滿足自動化設(shè)備制造廠家、各元件生產(chǎn)和使用廠家、學校、研究所和計量質(zhì)檢部門進行精確測試和批量生產(chǎn)的要求。

儀器擁有專業(yè)分選功能,具有10組存儲文件,可編程3檔合格檔,1檔附屬檔(副參數(shù)不合格),1檔不合格檔和主參數(shù)HI/IN/LO檔,可設(shè)置百分比分選或絕對值分選,配備USB接口、Handler接口和RS-232C接口改良設(shè)計的AT261X,加強了整機抗干擾電路和保護電路,滿足自動化設(shè)備(分選機、老化機等)的復雜使用環(huán)境。

特征

真彩TFT-LCD顯示。

儲存999LCD畫面檔案,觸發(fā)延遲

校正功能:全量程程開路和短路掃頻清零

校準功能

比較器功能(分選功能)

文件功能:儀器內(nèi)部Flash存儲器有10個文件可供您用來保存儀器數(shù)據(jù),

可編程1256次平均次數(shù),提供穩(wěn)定性。

自定義分選結(jié)果訊響。

內(nèi)置RS232C/RS485/USB接口和Handler接口,可選GPIB接口。

SCPIModbus 通信協(xié)議。

安柏AT2617電容測試儀規(guī)格

測量參數(shù)

Cs-Rs, Cs-D, Cp-Rp, Cp-D, Rs-Q,Rp-Q, Z-D, Z-Q

基本準確度

0.1%

測試頻率

100, 120, 1kHz, 10kHz, 100kHz 0.01%

測試量程

自動、手動和標稱量程,9量程

測試速度

30 /, 10 /, 3 /

顯示范圍

C: 0.0001pF – 9.9999mF
R,Z: 0.0001Ω - 99.999MΩ
D, 0.0001 – 9.9999
Q: 0.0001 – 9999.9
Δ%: -999.999% - 999.999%

輸出阻抗

30Ω100Ω

監(jiān)視參數(shù)

Z, R, Δ, Δ%

讀數(shù)

99999

等效方式

串聯(lián)和并聯(lián)等效

信號電平

ACV10.00mV~2.00V,準確度:10%,CV模式準確度:6%

平均次數(shù)

1~256

觸發(fā)方式

內(nèi)部、手動、外部和遠程

觸發(fā)延時

0.01ms~60s

比較器

合格檔(BIN1-BIN3):表示主副參數(shù)均合格;
附屬檔(AUX):表示附屬檔打開時,主參數(shù)合格但副參數(shù)不合格;
不合格檔(OUT):主參數(shù)不合格,或者,附屬檔關(guān)閉時主參數(shù)合格但副參數(shù)不合格。
HI/IN/LO:主參數(shù)更詳細的比較結(jié)果,HI:主參數(shù)偏高,LO:主參數(shù)偏低,IN:主參數(shù)合格

比較方式

順序/絕對偏差/相對偏差

校準

開路清零、短路清零(掃頻和點頻)

文件

內(nèi)部存儲10個文件
外部USB存儲10個文件

數(shù)據(jù)記錄

9999 組文件(.csv)

訊響功能

關(guān)/合格/不合格

接口

處理機(Handler)接口/RS232接口/RS485接口/GPIB接口(選件)

通訊協(xié)議

SCPI/Modbus

電源要求

90V-260VAC,50Hz60Hz

尺寸與重量

264()x107()x349.5 ()
3kg,凈重

應(yīng)用

基礎(chǔ)元件和材料測量:電容器、電阻器、變壓器等
元器件入料檢測
電容器分選檢測
用于實驗室質(zhì)量控制,進料檢驗以及元器件分選

 


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